基恩士發(fā)布形狀測量激光顯微系統(tǒng)VK-X100/X200系列

　　高分辨率，大景深觀察

　　（1） 高分辨率， 最大放大24000 倍

　�。�2） 完全聚焦的清晰圖像

　�。�3） 符合溯源性要求

　　仿佛彩色 SEM

　�。�1） 16 bit 激光彩色觀察

　�。�2） 放置并且測量，您可以在幾秒鐘內進行分析

　�。�3） 可拆卸測量頭單元允許各種尺寸的樣品測量�？刹鹦稖y量頭單元可以與其他設備整合并支持遠程操作。

　　無損輪廓和粗糙度測量

　�。�1） 非接觸式設計，可用于測量軟質的工件

　�。�2） 方便定位測量區(qū)域

　�。�3） 激光光束波長比表面粗糙度測量直徑小

激光顯微系統(tǒng)VK-X100/X200系類